新拓三维XTOM高精度蓝光三维扫描仪，采用蓝光光栅投射技术进行三维扫描，适用于曲面天线等复杂几何形状的全尺寸几何公差分析。以下是关于高精度蓝光三维扫描仪在曲面天线全尺寸几何公差分析中的应用：

曲面天线的三维扫描是一项高精度的测量工作，若抛物线天线在制造过程中产生偏差，将直接影响信息接收程度，抛物线天线的全尺寸检测非常关键。天线曲面形状，人工难以进行测量，无法获取完整、精确的三维数据以判断产品质量。

高精度蓝光3D扫描仪的使用，可轻松获取曲面天线全尺寸的准确3D数据模型，克服了这一检测难点。

在抛物面天线检测中，其对于精度要求高，采用蓝光三维扫描技术进行多角度扫描，以保证获取完整的3D形貌数据，这对于天线的设计优化、制造质量控制以及性能测试都至关重要。

下图为采用新拓三维XTOM-5M蓝光三维扫描仪多角度扫描获取的曲面天线3D数据模型。

3D全尺寸检测：在抛物面天线的检测过程中，有两个重要检测项目，其一为尺寸偏差，另一项为检测天线的RMS（均方根）。将曲面天线扫描3D数模与设计数据导入检测软件，进行曲面数据的3D比较分析，产品尺寸偏差是否符合要求一目了然。

将三维扫描测得的数据进行RMS分析（在物理学中常用RMS值来分析噪声，通过RMS分析，可推演天线的性能）。

XTOM高精度3D扫描仪适用于曲面轮廓多样的天线几何公差分析，它可以实现精确的3D全尺寸偏差分析，通过与设计模型进行对比，优化天线设计和提升产品质量。蓝光三维扫描技术有助于在在曲面上实现高性能三维曲面电子器件的制造，包括球形天线等，提高曲面天线的制造精度和性能。