对于商用笔记本和平板电脑而言，品质与耐用性的重要衡量标准就是“军规”！笔记本与平板系列产品在设计之初就要充分考虑这些问题，从设计到用料都严格遵循军规标准（通常指环境工程考察和实验室测试）。

其中，跌落测试就是重要测试项目之一。该测试模拟日常工作中不慎将笔记本/平板电脑跌落，在工作台上被物体以加速形态冲撞，检验产品抗意外冲击能力。抗跌性能主要取决于最大应力，而最大应力与跌落的不同角度、高度、速度等因素有关。

高速DIC测量

新拓三维XTDIC-STROBE三维动态测量系统搭配高速摄像机，DIC非接触全场应变测量，基于三维数字图像相关法（DIC），能够对跌落物体高速运动过程进行高速图像采集，可准确测量产品跌落下的位移、时速、姿态、应变力等数据。

XTDIC-STROBE三维动态测量系统通过高速摄像机捕捉高速目标运动过程，并跟踪运动物体特征点，测量特定点的位移、速度、加速度等参数。

DIC非接触全场应变测量，利用DIC分析软件计算产品跌落时的位移、应变、加速度、空序位移变化，用响应面来表示它们的相关关系，从而精准分析产品跌落变形情况，评估笔记本/平板电脑包装组件在跌落时所能承受的坠落高度及耐冲击强度。

DIC非接触应变测量-笔记本电脑跌落测试

为了测试笔记本电脑抗跌、抗冲击抗弯性能，某笔记本电脑厂商使用新拓三维XTDIC-STROBE三维动态测量系统，搭配高速摄像机对笔记本电脑自由落体试验进行拍摄，并采用DIC软件对其跌落过程进行运动、位移、应变分析。

DIC非接触全场应变测量测试过程，需要观察到笔记本电脑跌落至地面的整个过程，包括掉落后弹起的过程。高速摄像机稳固架设向下倾斜以一定的角度拍摄跌落过程，使用光源正对物体，并调整镜头光圈和曝光时间，以便于采集到高质量的跌落过程图像。

Z方向位移场

跌落瞬态三维形貌变化

DIC非接触全场应变测量试验，可以清晰观察到笔记本电脑跌落过程，同过DIC软件分析笔记本电脑跌落过程的运动速度、位移和应力参数变化。试验分析数据结果可帮助企业优化产品结构设计，提高其抗冲击、抗弯性能。

DIC非接触式应变测量-平板电脑跌落测试

平板电脑在研发阶段就需要进行跌落测试，保证产品的质量。抗跌测试可以了解跌落过程外壳结构的变化，提高产品的抗跌落、抗冲击能力。DIC非接触全场应变测量，进行跌落瞬态变形、抗弯、抗跌测试，同时可以优化结构设计，降低结构成本，减少实物样机的数量。

但是这些破坏性试验，必须在产品试制成功后进行，耗费的时间和物力财力巨大。另外，我们在产品的实际跌落测试中，只能获得有限数据信息，无法获得空间和时间的连续结果，很难检测到产品内部的冲击特性，很难观测到整个物理样机试验变化过程。

由于笔记本电脑都是薄壁结构，跌落测试需要获取全面的数据信息，以及空间和时间的连续结果，以便于分析平板电脑在跌落测试的冲击特性，DIC非接触全场应变测量技术可观测整个物理样机试验变化过程。DIC全场测量技术的优点是能够选择物体表面上所需点或区域的任何位置。

平板电脑跌落瞬态位移场变化过程

DIC非接触全场应变测量，通过DIC软件分析，可以直观地发现产品最大的变形区域和最大的应力区域，通过对这些区域结构的增强，可以有效减少跌落引起的结构的破坏。

另外笔记本/平板电脑的屏对冲击加速度非常敏感，过大的冲击加速度可能会引起屏幕的破裂，通过对结构缓冲的更新设计，可以有效的降低屏在跌落时候的冲击加速度，提升屏的抗跌落性能。

采用DIC非接触应变测量技术，进行3D电子产品-笔记本电脑/平板电脑跌落测试，通过DIC软件分析输出各种直观的数据，云图，曲线等，可以方便地发现最危险的区域，帮助工程师做出正确的判断。