科学仪器是探索自然、认识世界的重要工具
作为国产DIC技术的开拓者
我们专注于DIC技术研发、应用十余年
在DIC技术领域掌握核心技术
我们不断探索与创新,专注于产品每一个细节
持续研发DIC软件功能和扩充硬件,提升仪器设备能力
在高端科研仪器领域,增添了一抹鲜艳的“中国色彩”

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了解DIC三维全场应变测量产品在材料科学及结构工程等领域的应用吧!
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专为材料和零件三维型面、位移、应变测量而生
XTDIC-CONST三维全场应变测量系统,支持平面二维、曲面三维变形测量,适用于静态和动态载荷作用下的全场应变和基于点的分析;可变的测量视野,适配不同速率相机,测试应用灵活和多样化,助力科研机构和高等院校研究测试及科研成果转化。
强大的测量性能
• 位移分辨率可至纳米级;
• 应变精度达20μe,应变测量范围0.002%~2000%;
• 试样尺寸从几mm²到几十m²,更大测量视野可通过定制化服务实现;
• 动态事件捕捉速率高达1000000fps;
• 实时性:全场分析20fps ,关键点目标1000fps。
自主可控核心算法
• 图像识别及匹配算法
• 高精度相机柔性标定算法
• 高精度三维重建算法
• 丰富的数据后处理算法
丰富的软件功能
XTDIC系统软件采用一体化、平台式开发理念,集成图像采集、计算分析、试验机控制通信等高度模块化设计功能,提供专业DIC数字图像相关测量数据与报告。基于开发的XTDIC系列功能软件,可满足不同应用场景。
• 基于散斑匹配的全场位移和应变测量
• 基于标记点检测的运动轨迹姿态测量
• 基于摄影测量技术的静态变形测量
• 基于特征匹配的关键点运动轨迹测量

多行业多学科应用-百舸齐发
材料工程、煤岩土木、生物医学、芯片电子、汽车、航空航天……
XTDIC系统可对被测件形变和位移进行全域分析
可测量振动、材料和结构变形、2D/3D运动轨迹测量
高应变率、高速测试、振动测量、FEA分析、裂纹扩展、动态测试
为各行业提供非接触全场变形、应变和运动轨迹测量解决方案

